RAMSpec
Plus Software
佐信科技公司獨立開發的拉曼操作軟體，已整合所有元件功能在同一視窗中，如光譜顯示、雷射控制、觀察影像、組圖功能、偏振角度解析、時間解析等..以利方便操作。全自動操作設計可以一鍵轉換光譜掃描與影像觀測，自動扣除背景(baseline correction)可選擇三種不同扣除參數模式，手動背景校正可Liner及Cubic
Spline兩種模式，軟體具備光譜平滑化功能，可即時及離線扣除電子雜訊，含強度、均一、堆疊三種疊圖模式，能以 Offset 方式分離基線，可於軟體內控制所有機械元件運作，並於軟體內修改各個機械元件之參數，接受OEM、ODM開發之設計。
控制雷射功率的兩種方式
影像與介面控制
( 如右 )
1.軟體內控制所有機械元件運作，並可修改各個機械元件之參數，含電控載台、雷射能量、衰減片、影像及掃瞄切換
2.單鍵切換圖譜掃描及影像觀測
3.可標記雷射光點位置及樣品影像，內建尺規可即時量測樣品大小
雷射控制
1.可控制雷射實際輸出，1mw/step
2.可控制雷射衰減片，可內建多條不同波長雷射之衰減功率檢量線，其衰減解析度可達1%
3.可自建不同波長雷射之衰減功率減量線，至少可加入10個參考點以上來提高精準度
4.於切換不同雷射時可自動帶入雷射衰減功率檢量線，可強化雷射功率精準度
快捷鍵功能
1.鼠標右鍵快捷功能：標記/刪除峰值位置、半高寬、積分面積、峰值高度
2.自動雷利(rayleigth)校正功能，無須點選波峰，軟體自動判別並校正，亦可由客戶指定校正波峰位置
數據處理
1.數據與圖像支援多種格式匯出， Excel、TXT、SPC、PTT、ASCII的檔案格式及BMP、JPG、PNG 等圖片格式
2.支援批次自動扣除背景及格式轉換（例如
PTT 轉
Excel / TXT）和可批次處理多個光譜圖
3.軟體支援 pixel、nm、cm⁻¹
與 eV 四種單位切換
報告輸出模式
報告內容含量測參數、圖譜輸出、單一區塊放大圖譜輸出、波峰數據、百分比及影像
進階操作
1.可用滑鼠控制電控載台XYZ方向移動及拖曳方式操作無須搖桿控制
2.可於影像畫面以滑鼠左鍵雙擊特定位置便可位移特定位置至雷射中心點位置
3.可應客戶需求客製增加圖譜分析功能系統，支援時間解析、拉曼 Mapping和角度解析偏振拉曼
樣品影像及組圖
: 高溫高壓鑽(HPHT)表面應力分析 4 mm*4 mm(100 μm/step)
1600 pixels
全角度解析偏振組圖 單角度解析偏振組圖
拉曼/光致發光組圖(Mapping)
1.可設定掃描範圍(Width/Height)及解析度(scan
resolution)
2.可選單一背景扣除或是多個取樣點背景扣除功能
3.可拉曼(光致發光)組圖功能外，另具有樣品影像組圖功能，以利大面積掃描比對
4.具有影像/拉曼(光致發光)訊號之自動對焦功能，且可以自行設定多個自動對焦位置或全自動對焦，以利節省量測時間
5.可進行縱深量測(Depth-Scan)且能設定由淺到深或是深到淺
6.可觀察單一波峰之強度(intensity)/半波寬(FWHM)/面積(Area)/雙峰強度比值(A/B ratio)/單峰位移(peak
shift)/雙峰位移量(Δ shift
)/不對稱單一波峰半波寬分析(FWHM stack)
7.可二維(2D)及三維(3D)顯示組圖之結果
8.三維(3D)顯示組圖可調整輸出模型顯色的平滑化(optimization)
9.可於拉曼(光致發光)組圖顯示介面內任意選擇圖譜堆疊比較(overlap)
10.可校正影像中心點及電控載台中心點，以提高掃描區域精準度
11.可設定電控載台參考點，以利尋找樣品時能回到參考點
12.可單鍵回到電控載台中心點
13.於軟體控制載台XYZ方向單一步進移動
14.支援滑鼠操作：鼠標直接拖曳影像即能移動樣品位置，不須點擊方向鍵，滾輪能控制對焦，雙擊影像則能將指定位置快速移到雷射中心點，大幅提升操作的直覺性與效率
角度解析偏振拉曼功能(Angle Resolved Polarized Raman)
1.全自動搜尋樣品與雷射之平行偏振拉曼角度
2.可觀察單一波峰之強度(intensity)/半波寬(FWHM)/面積(Area)/雙峰強度比值(A/B ratio)/單峰位移(peak
shift)/雙峰位移量(Δ shift
)/不對稱單一波峰半波寬分析(FWHM stack)
3.全角度平面數據解析
時間解析量測(Dynamic monitor)
1.可設定掃描間隔(scan interval)及取樣次數(scan
times)
2.可觀察單一波峰之強度(intensity)/半波寬(FWHM)/面積(Area)/雙峰強度比值(A/B ratio)/單峰位移(peak
shift)/雙峰位移量(Δ shift
)/不對稱單一波峰半波寬分析(FWHM stack)
3.可二維(2D)及三維(3D)顯示圖譜時間解析之結果
